စက်မှုသတင်း

အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများထုတ်လုပ်ရာတွင်၊ ထုတ်ကုန်အရည်အသွေးကိုသေချာစေရန်အတွက် ဆားကစ်ဘုတ်စမ်းသပ်စစ်ဆေးမှုများသည် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ ဗလာဘုတ်ပြားများ သို့မဟုတ် တပ်ဆင်ထားသော PCB များအတွက်ဖြစ်စေ ဘောင်းဘီတိုများ၊ အဖွင့်များနှင့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ကို သိရှိရန် လျှပ်စစ်အဆက်အသွယ်များကို စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်းများ ပြုလုပ်ပါသည်။ circuit density တိုးလာသည်နှင့်အမျှ၊ test probe technology သည် ပိုမိုတိကျမှုနှင့် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်ဆီသို့ တိုးလာနေသည်။

5G ဆက်သွယ်ရေးများ တိုးပွားလာခြင်း၊ မြင့်မားသော ဆန်းသစ်မှုနှုန်း မျက်နှာပြင်ပြသမှုများနှင့် စမတ်ဖုန်းများရှိ ဘက်စုံသုံး ချစ်ပ်များနှင့်အတူ၊ ပင်မဘုတ်များပေါ်ရှိ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုသည် ပိုမိုထင်ရှားလာပါသည်။ စမတ်ဖုန်း ပင်မဘုတ်များအတွက် EMI အကာအရံကာဗာများသည် တိကျသောသတ္တုအစိတ်အပိုင်းများအဖြစ် ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်းစွမ်းဆောင်ရည်နှင့် စနစ်တည်ငြိမ်မှုကို ကာကွယ်ပေးသည့် အရေးပါသော ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာအတားအဆီးများအဖြစ် ဆောင်ရွက်လျက်ရှိသည်။

အီလက်ထရွန်နစ် ကိရိယာများသည် သေးငယ်သော အသွင်ပြောင်းခြင်းနှင့် ပိုမိုမြင့်မားသော ပေါင်းစပ်မှုဆီသို့ ဆက်၍ တိုးတက်နေသဖြင့်၊ လျှပ်စစ်သံလိုက် စွက်ဖက်မှုသည် ထုတ်ကုန်စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို ထိခိုက်စေသည့် အရေးကြီးသော စိန်ခေါ်မှုတစ်ခုအဖြစ် ပေါ်ပေါက်လာပါသည်။ ဤအခြေအနေတွင်၊ EMI လျှပ်ကူးစပရိန်ကလစ်များသည် အမျိုးမျိုးသောတိကျသော အီလက်ထရွန်နစ်စက်ပစ္စည်းများတွင် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသောမျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်းအကာအရံအစိတ်အပိုင်းများအဖြစ် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်လက်ခံရရှိလာပါသည်။